S-TEST UTB (BSI) - Universal Tester Board
Universelles Board für effiziente System-Level-Tests (SLT)
Für digitale Sensoren, Prüfung der Sensorcharakterisierung oder Endprüfung in der Sensorproduktion.
ANWENDUNGSBEREICHE
Was sind die SPEKTRA Anwendungsbereiche?
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S-TEST/16 Fab
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen.
Das S-TEST/16 Fab wird eingesetzt für Massenproduktionstests und Qualitätssicherung in der Sensorfertigung.
ANWENDUNGSBEREICHE
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S-TEST/16 Lab
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen.
Das S-TEST/16 Lab wird für die Entwicklung und Testen von Sensoren bzw. zur Qualitätssicherung in der Sensorfertigung genutzt.
ANWENDUNGSBEREICHE
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S-TEST/2
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen.
Das S-TEST/2 wird in der Entwicklung und Test bzw. zur Qualitätssicherung im Fertigungsprozess verwendet.
ANWENDUNGSBEREICHE
Was sind die SPEKTRA Anwendungsbereiche?
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S-TEST Engineering Board
Vielseitige Plattform für SPEKTRA S-TEST mit frei nutzbarem Prototyping-Bereich für kleine digitale Sensoren.
Zur Vorbereitung benötigter Schaltungen und/oder Komponenten für das Bring-Up von Sensor-Prototypen und die Entwicklung von Sensor-Tests.
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S-TEST/2
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen.
Das S-TEST/2 wird in der Entwicklung und Test bzw. zur Qualitätssicherung im Fertigungsprozess verwendet.
ANWENDUNGSBEREICHE
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S-TEST/16 Lab
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen.
Das S-TEST/16 Lab wird für die Entwicklung und Testen von Sensoren bzw. zur Qualitätssicherung in der Sensorfertigung genutzt.
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S-TEST/16 Fab
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen.
Das S-TEST/16 Fab wird eingesetzt für Massenproduktionstests und Qualitätssicherung in der Sensorfertigung.
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Was sind die SPEKTRA Anwendungsbereiche?
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S-TEST Engineering Board
Vielseitige Plattform für SPEKTRA S-TEST mit frei nutzbarem Prototyping-Bereich für kleine digitale Sensoren.
Zur Vorbereitung benötigter Schaltungen und/oder Komponenten für das Bring-Up von Sensor-Prototypen und die Entwicklung von Sensor-Tests.
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S-TEST Evaluation Board (BSI)
Wird mit einer BSI Karte (UTB) verbunden.
Verschiedene Hardware-Komponenten auf dem Board können durch Aufstecken von Jumperleisten aktiviert werden.
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BSI-SIRm-2+ - zum Vermessen elektrischer Eigenschaften von und zur Kommunikation mit MEMS-Sensoren.
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