S-TEST - Chassis Controller Board
Interfacekarte für die S-TEST Systemlösungen zum einfachen Austausch von Interface Logic Blocks
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Produktdetails
Kommunikation
- TCP-Steuerung & Befehl
- 3 x USB für Konfiguration und Wartung
- DDS-Modul zur Takterzeugung z.B. für SPI
- 36 LVDS-Leitungen für interne UTB-Kommunikation
Digitales Front-End
- 2 x Trigger-Eingang
- 2 x Digitaler Ausgang
- 5 V Versorgungsspannung
- Kalibrierleitungen für Spannung und Widerstand
S-TEST-Logik & FW Updates
- Einfacher Austausch von Interface Logic Blocks
S-TEST Chassis-Selbstkalibrierung
- Hochstabile Referenzspannungsquelle
- Präzisions-Referenzwiderstände

S-TEST FECB Kalibrierplatz
Kalibrieren und Justieren von SPEKTRA Tischgeräten oder Schaltschränken BSI
(geliefert als kompletter Kalibrierplatz)
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S-TEST/16 Fab
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen.
Das S-TEST/16 Fab wird eingesetzt für Massenproduktionstests und Qualitätssicherung in der Sensorfertigung.
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S-TEST/16 Lab
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen.
Das S-TEST/16 Lab wird für die Entwicklung und Testen von Sensoren bzw. zur Qualitätssicherung in der Sensorfertigung genutzt.
ANWENDUNGSBEREICHE
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S-TEST/2
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen.
Das S-TEST/2 wird in der Entwicklung und Test bzw. zur Qualitätssicherung im Fertigungsprozess verwendet.
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S-TEST/2m
BSI-SIRm-2+ - zum Vermessen elektrischer Eigenschaften von und zur Kommunikation mit MEMS-Sensoren.
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S-TEST/2
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen.
Das S-TEST/2 wird in der Entwicklung und Test bzw. zur Qualitätssicherung im Fertigungsprozess verwendet.
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S-TEST/16 Lab
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen.
Das S-TEST/16 Lab wird für die Entwicklung und Testen von Sensoren bzw. zur Qualitätssicherung in der Sensorfertigung genutzt.
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S-TEST/16 Fab
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen.
Das S-TEST/16 Fab wird eingesetzt für Massenproduktionstests und Qualitätssicherung in der Sensorfertigung.
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S-TEST Engineering Board
Vielseitige Plattform für SPEKTRA S-TEST mit frei nutzbarem Prototyping-Bereich für kleine digitale Sensoren.
Zur Vorbereitung benötigter Schaltungen und/oder Komponenten für das Bring-Up von Sensor-Prototypen und die Entwicklung von Sensor-Tests.
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S-TEST UTB (BSI) - Universal Tester Board
Universelles Board für effiziente System-Level-Tests (SLT)
Für digitale Sensoren, Prüfung der Sensorcharakterisierung oder Endprüfung in der Sensorproduktion.
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S-TEST Evaluation Board (BSI)
Wird mit einer BSI Karte (UTB) verbunden.
Verschiedene Hardware-Komponenten auf dem Board können durch Aufstecken von Jumperleisten aktiviert werden.
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S-TEST/2m
BSI-SIRm-2+ - zum Vermessen elektrischer Eigenschaften von und zur Kommunikation mit MEMS-Sensoren.
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S-TEST FECB Kalibrierplatz
Kalibrieren und Justieren von SPEKTRA Tischgeräten oder Schaltschränken BSI
(geliefert als kompletter Kalibrierplatz)
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