S-TEST Engineering Board
Vielseitige Plattform für SPEKTRA S-TEST mit frei nutzbarem Prototyping-Bereich für kleine digitale Sensoren.
Zur Vorbereitung benötigter Schaltungen und/oder Komponenten für das Bring-Up von Sensor-Prototypen und die Entwicklung von Sensor-Tests.
ANWENDUNGSBEREICHE
Was sind die SPEKTRA Anwendungsbereiche?
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Produktdetails
- 64-poliger S-TEST(BSI)-Anschluss
- Frei nutzbare Prototyping-Bereiche
- Sensoranschlussbereich für bis zu 64 Pins (7,62 mm / 15,24 mm)
- ZIF-Anschlussbereich für flexible Leiterplatten mit 1 mm Anschlussabstand
- 2-polige Stiftleisten für jedes Signal (Verbinden und Messen)
S-TEST/16 Fab
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen.
Das S-TEST/16 Fab wird eingesetzt für Massenproduktionstests und Qualitätssicherung in der Sensorfertigung.
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S-TEST/16 Lab
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen.
Das S-TEST/16 Lab wird für die Entwicklung und Testen von Sensoren bzw. zur Qualitätssicherung in der Sensorfertigung genutzt.
ANWENDUNGSBEREICHE
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S-TEST/2
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen.
Das S-TEST/2 wird in der Entwicklung und Test bzw. zur Qualitätssicherung im Fertigungsprozess verwendet.
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Dabei sind jegliche Konfigurationen möglich, wie z.B. mehrere Sensortypen oder Gehäuseformen pro Adapterbox oder zusätzliche periphere Beschaltung der Prüflinge.
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