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S-TEST Lab ALF

können mit verschiedenen Tieffrequenz-Beschleunigungserregern zusammengestellt werden

Diese sind mit einer Luftlagerausführung für sehr präzise Bewegungen oder mit einer robusten Kugellagerausführung für härtere Testbedingungen erhältlich.

 

ANWENDUNGSBEREICHE

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Produktdetails

  • Luftgelagerte Tieffrequenz Erreger:
    • APS 600: Frequenzbereich bis 100 Hz
    • APS 113-AB, APS 129, APS 500: Frequenzbereich bis 200 Hz
    • SE-13: Frequenzbereich bis 400 Hz
  • Kugelgelagerte Tieffrequenz Erreger APS 113, APS 400 oder APS 420
    • Frequenzbereich bis 200 Hz
    • Kraft: 900 N
  • Waagerechter und senkrechter Betrieb
  • Synchroner, gut abgestimmter Multi-Erreger Betrieb, Mehrkanal-Option
  • 4 Anregungsmodi

Software Highlights

  • Sinus/Rauschen 50 mHz…500 Hz
  • Sweep, Dwell, Handsteuerung, Skriptbetrieb, Fernsteuerung
  • Klirrfaktormessung
  • Spektralanalyse, Modalanalyse
  • Lückenlose Sampleaufzeichnung
  • Umfangreiche Anzeigefunktionen und Chart
  • Leistungsfähige Filter
  • Distortion compensation
S-TEST/2

S-TEST/2

Kompaktes Testsystem für digitale Sensoren

Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen. 

 

Das S-TEST/2 wird in der Entwicklung und Test bzw. zur Qualitätssicherung im Fertigungsprozess verwendet.

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VCS 40x

VCS 40x

Schwingregelsystem-Familie auf PXI-System von NI®

Frei konfigurierbare Komponente, basierend auf dem leistungsfähigen PXI-System von National Instruments®
Ansteuerung unserer Erreger, von sehr niedrigen bis zu sehr hohen Frequenzen 10 mHz...500 kHz. Applikationen erlauben sehr schnelle und effektive Produktionstests.

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