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SPEKTRA S-TEST - Die clevere Testlösung für digitale Sensoren

Hocheffiziente Sensor-Charakterisierung von der Entwicklung bis zur industriellen Massenfertigung

Die von SPEKTRA entwickelten S-TEST Lösungen erlauben die hocheffiziente Charakterisierung Ihrer Prüflinge von der Entwicklung bis hin zur industriellen Massenfertigung.

Für Sensoren unterschiedlichster Messgrößen können im Laborbereich vielfältige Stimuli (Beschleunigung, dynamischer Druck, Drehrate…) bereitgestellt werden.

Der insbesondere für Sensoren entwickelte System-Level-Tester erlaubt einen flexiblen und hochparallelen Abgleich und Parameternachweis unter Simulation der Ziel-Einsatz-Bedingungen.

SPEKTRA S-TEST Systeme zeichnen sich durch folgende Vorteile aus:
  1. Paralleler Test aller Prüflinge ohne Ressourcenteilung
    • Jedem Prüfling (DUT) ist eine eigene Tester-Karte zugeordnet. Jede dieser Karten arbeitet als eigenständiger Tester. Durch diese Tester per DUT Architektur stehen für jeden Prüfling alle Resourcen (DC und AC) exklusiv zur Verfügung.
  2. Hoher Durchsatz mit Intelligenz direkt am Prüfling
    • Durch diese Tester per DUT Architektur steht jedem Prüfling (DUT) auch ein eigener NIOS Testcontroller zur funktionellen Testabarbeitung zur Verfügung.
    • Eine Datenrate zwischen DUT, Testcontroller und Host entfällt damit als limitierender Faktor.
  3. Hohe Integrationsfähigkeit
    • geringe Baugröße und Leistungsaufnahme
    • in der Entwicklung erstellte Prüfprogramme können direkt in die Fertigung und Qualitätssicherung überführt werden
    • Nutzung identischer Hard- und Software in der Prototypenentwicklung und Massenfertigung
  4. Optimale Skalierbarkeit durch Einsatz identischer Hard- und Software
    • Prototypen-Entwicklung bis hin zur Massenfertigung
      • Tischgerät mit 2 Tester-Karten (S-TEST Lab)
      • Rack mit 16 Tester-Karten
      • Schaltschrank mit 96 Tester-Karten (UTB)
      • Parallelschaltung von Schaltschränken möglich
    • Sensor-Charakterisierung in Verbindung mit verschiedenen Stimuli wie Magnetfeld, Vibration, Stoß, Temperatur, …
    • Synchronisation durch verschiedene Triggerquellen (Prüfling, Handler, Steuersoftware…)

 

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Autor:
Tina Pfützner
Event & Communications Manager SPEKTRA

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