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Device Testing

Laborbild Device Testing

MEMS-Sensoren für Beschleunigung, Magnetfeld oder Druck erfordern einen effizienten und kostengünstigen Systemtest zur Überprüfung der korrekten Sensorfunktion, sowie zur Kalibrierung und dem Abgleich der Sensormesswerte.

Dazu bietet SPEKTRA mit der S-TEST Lab Produktlinie Lösungen für den Systemtest von vielfältigen Sensortypen in Laboren und Entwicklungsumgebungen an. Diese sind als kompakte Testhardware konzipiert, die es erlaubt, bereits in frühen Phasen der Entwicklung die korrekte Funktion der Sensoren zu überprüfen. Mit seinen konfigurierbaren digitalen Schnittstellen bieten S-TEST Lösungen zudem die Flexibilität, mit wenig Aufwand viele verschiedene Sensortypen zu testen.

Im Labor entwickelte Systemtests können dann später einfach in die multiparallele Testumgebung der Massenfertigung überführt werden. Die dafür konzipierten S-TEST Fab Anlagen erlauben den hochparallelen Final Test von Sensoren in der Massenfertigung. Zudem ermöglichen sie eine einfache Skalierung bei optimalen Kosten pro Sensor. Mit der auf die S-TEST Hardware zugeschnittene modulare S-TEST Software liefert SPEKTRA dem Testentwickler dazu eine Testumgebung, welche neben schneller Anpassung und zeitlicher Optimierung der Testabläufe auch die Kopplung an verschiedene Erregersysteme erlaubt und in dieser Kombination eine Komplettlösung für den Systemtest von Sensoren in der Fertigung darstellt.

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Referenzen: