S-TEST System Level Test

Charakterisierung und Fertigungstest von Sensoren wird effektiver

 

MEMS-Sensoren sind zunehmend zu einem festen Bestandteil unserer Welt geworden.

Bedeutsame, manchmal sogar lebenswichtige Anwendungen wie ADAS, IoT, Industrie 4.0 usw. basieren auf hochgenauen Sensordaten. Dadurch steigt die Nachfrage für kostengünstige MEMS Sensoren. Die Industrie erwartet trotz leichtem Rückgang des Wachstums trotzdem weiterhin jährliche Zuwachsraten der Stückzahlen von 10 % und mehr. Gleichzeitig führt der Rückgang der erzielbaren Preise vor allem im Consumer-Bereich zu erhöhtem Preisdruck für die Sensorhersteller. Der steigende Integrationsgrad z.B. durch Kombisensoren erzeugt zusätzlichen Bedarf, die Herstellungs- und damit auch die Testkosten zu reduzieren

 

Das S-TEST System von SPEKTRA zielt genau auf diese Anforderung. Durch die Konzentration auf die klar definierten Anforderungen eines System Level Tests (SLT) von digitalen Sensoren bietet das S-TEST System deutliche Funktions- und Kostenvorteile gegenüber herkömmlichen VLSI-Testsystemen.

 

Beim System Level Test wird der Sensor ähnlich wie in einer endgültigen Anwendung verwendet, während der Sensor mit klar definierten Umgebungsreizen stimuliert wird. Zum kostenoptimierten Testen von digitalen MEMS Sensoren bietet die SPEKTRA S-TEST Plattform eine flexible Lösung für gängige Sensorinterfaces (I²C, SPI, JTAG, CAN, LIN, PSI5, SENT, ZACwire, …).

Das System ist skalierbar und kann sowohl als kompaktes Tischgerät in der Sensorentwicklung, als auch zum multiparallelen Produktionstest von Sensoren in der Fertigung eingesetzt werden. Die flexible Kombination mit Handling-Systemen verschiedenster Hersteller bietet zusätzlichen Investitionsschutz.

 

Eine Veranschaulichung des parallelen Testens von Beschleunigungssensoren sehen Besucher der Productronica am SPEKTRA Messestand vom 14.-17.11.2017.

Haben wir Sie neugierig gemacht?

Wir freuen uns auf Ihren Besuch zur Productronica/Semicon Europe. Kommen Sie an unseren Messestand 226 in Halle A1! Vereinbaren Sie gleich Ihren persönlichen Termin:

Per Telefon: 0351 400240 oder per E-Mail: sales@spektra-dresden.de

 

Nur einige der vielen Vorteile sind:

  • Kostenoptimiertes Testen für Low-Cost-Sensoren

- Auf System Level Test optimierte Hardware
- Bereits implementierte Standardinterfaces, wie I²C, SPI, CAN, SENT, PSI5, ZACWire, …

  • Paralleler Test aller Prüflinge ohne Ressourcenteilung

- eine Tester-Karte pro Prüfling
- exklusive Testressourcen-Verfügbarkeit für jeden Prüfling (DC, AC, IO)
- eigener Testcontroller pro Prüfling zur schnellen funktionellen Testabarbeitung

  • Optimale Skalierbarkeit durch Einsatz identischer Hard- und Software

- Einsatz in der Entwicklung: Tischgerät mit 2 oder 16 Tester-Karten
- Einsatz in der Fertigung: Schaltschrank mit 96 Tester-Karten (UTB) - Parallelschaltung von Schaltschränken möglich
- Synchronisation durch verschiedene Triggerquellen (Prüfling, Handler, Steuersoftware…)
-Ankopplung an verschiedene Device-Handlingsysteme möglich (Stimuli: Beschleunigung, Druck, Magnetfeld,…) in Kombination mit Temperatur

 

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