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S-TEST Lab ALF
Die S-TEST Lab ALF Systeme können mit einer breiten Palette von Tieffrequenz-Beschleunigungserregern zusammengestellt werden. Diese sind mit einer Luftlagerausführung für sehr präzise Bewegungen oder mit einer robusten Kugellagerausführung für härtere Testbedingungen erhältlich.
- Luftgelagerte Tieffrequenz Erreger:
- APS 600: Frequenzbereich bis 100 Hz
- APS 113-AB, APS 129, APS 500: Frequenzbereich bis 200 Hz
- SE-13: Frequenzbereich bis 400 Hz
- Kugelgelagerte Tieffrequenz Erreger APS 113, APS 400 oder APS 420
- Frequenzbereich bis 200 Hz
- Kraft: 900 N
- Waagerechter und senkrechter Betrieb
- Synchroner, gut abgestimmter Multi-Erreger Betrieb, Mehrkanal-Option
- 4 Anregungsmodi
Software Highlights
- Sinus/Rauschen 50 mHz…500 Hz
- Sweep, Dwell, Handsteuerung, Skriptbetrieb, Fernsteuerung
- Klirrfaktormessung
- Spektralanalyse, Modalanalyse
- Lückenlose Sampleaufzeichnung
- Umfangreiche Anzeigefunktionen und Chart
- Leistungsfähige Filter
- Distortion compensation
APS 113-AB
APS 113-AB
Luftgelagerter ELECTRO-SEIS® Langhub-Schwingungserreger, speziell entwickelt für die Kalibrierung und Prüfung von tief abgestimmten Sensoren und zur Sensorcharakterisierung.
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APS 600
APS 600
Luftgelagerter ELECTRO-SEIS® Langhub-Schwingungserreger mit Schwingtisch für sehr hohe Prüflingsmassen. Speziell entwickelt für die Kalibrierung und Prüfung von Geophonen und schweren seismischen Sensoren.
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APS 500
APS 500
Luftgelagerter ELECTRO-SEIS® Langhub-Schwingungserreger mit Schwingtisch für Prüflingsmassen bis zu 3 kg. Speziell entwickelt für die Kalibrierung und Prüfung von kompakten, tief abgestimmten Sensoren und zur Sensorcharakterisierung bei höheren Beschleunigungen.
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APS 129
APS 129
Luftgelagerter ELECTRO-SEIS® Langhub-Schwingungserreger mit Schwingtisch für hohe Prüflingsmassen bis zu 23 kg. Speziell entwickelt für die Kalibrierung und Prüfung von großen und schweren, tief abgestimmten Sensoren und zur Sensorcharakterisierung wie z.B. Geophone oder schwere seismische Sensoren.
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S-TEST/2
S-TEST/2
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen. Zur Anwendung in der Entwicklung und Test bzw. zur Qualitätssicherung im Fertigungsprozess.
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VCS 40x
VCS 40x
Frei konfigurierbare Komponente, basierend auf dem leistungsfähigen PXI-System von National Instruments®. Ansteuerung unserer Erreger, von sehr niedrigen bis zu sehr hohen Frequenzen 10 mHz...500 kHz. Applikationen erlauben sehr schnelle und effektive Produktionstests.
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