DT
S-TEST Lab DRE
Das S-TEST Lab DRE-System basiert auf dem Drehratenerreger DRE-01. Eine typische Anwendung dabei ist die Bestimmung der Eigenschaften von MEMS-Sensoren und Sensorkomponenten in der Entwicklungsphase.
- Elektrodynamischer Antrieb
- Frequenzbereich: 1 Hz…5 kHz
- Sehr geringe Querbeschleunigung
- Prüflingsmasse: 500 g
- Winkelgeschwindigkeit : 5300 °/s
- Winkelbeschleunigung : 2,5 · 106 °/s²
- Klirrfaktor (Winkelgeschwindigkeit ): < 3%
S-TEST/2
S-TEST/2
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen. Zur Anwendung in der Entwicklung und Test bzw. zur Qualitätssicherung im Fertigungsprozess.
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VCS 40x
VCS 40x
Frei konfigurierbare Komponente, basierend auf dem leistungsfähigen PXI-System von National Instruments®. Ansteuerung unserer Erreger, von sehr niedrigen bis zu sehr hohen Frequenzen 10 mHz...500 kHz. Applikationen erlauben sehr schnelle und effektive Produktionstests.
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DRE-01
DRE-01
Der dynamische Rotationserreger DRE-01 findet Anwendung bei der Kalibrierung von Drehschwingungssensoren (Winkelgeschwindigkeit/Beschleunigung) und zur Charakterisierung von MEMS Sensoren. Er zeichnet sich durch eine sehr geringe Verzerrung der Bewegung aus, bietet einen integrierten Überlastschutz und Kühlung für verbesserte Leistung und kann mit jedem Signalgenerator oder Schwingungsregler betrieben werden.
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