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S-TEST - Chassis Controller Board
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Meine Merkliste
Kommunikation
- TCP-Steuerung & Befehl
- 3 x USB für Konfiguration und Wartung
- DDS-Modul zur Takterzeugung z.B. für SPI
- 36 LVDS-Leitungen für interne UTB-Kommunikation
Digitales Front-End
- 2 x Trigger-Eingang
- 2 x Digitaler Ausgang
- 5 V Versorgungsspannung
- Kalibrierleitungen für Spannung und Widerstand
S-TEST-Logik & FW Updates
- Einfacher Austausch von Interface Logic Blocks
S-TEST Chassis-Selbstkalibrierung
- Hochstabile Referenzspannungsquelle
- Präzisions-Referenzwiderstände
S-TEST/2
S-TEST/2
S-TEST/2 - Kompaktes Testsystem für digitale Sensoren
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen. Zur Anwendung in der Entwicklung und Test bzw. zur Qualitätssicherung im Fertigungsprozess.
Kompaktes Testsystem für digitale Sensoren
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S-TEST/16 Lab
S-TEST/16 Lab
S-TEST/16 Lab - Effizientes Testsystem für digitale Sensoren
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen. Entwicklung und Testen von Sensoren bzw. Qualitätssicherung in der Sensorfertigung.
Effizientes Testsystem für digitale Sensoren
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S-TEST/2m
S-TEST/2m
BSI-SIRm-2+
Zum Vermessen elektrischer Eigenschaften von und zur Kommunikation mit MEMS-Sensoren.
System für Vermessung und Kommunikation von MEMS Sensoren
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S-TEST/16 Fab
S-TEST/16 Fab
S-TEST/16 Fab – Produktionsprüfsystem für digitale Sensoren
Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen. Einsatzgebiete sind Massenproduktionstests und Qualitätssicherung in der Sensorfertigung.
Produktionsprüfsystem für digitale Sensoren
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Tel.: +49 351 400 24 0
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